Толщина оксидной пленки

По-видимому, появление моноклинной фазы оксида циркония вызвано наличием в экстрактах редкоземельных элементов нитратных групп, являющихся поставщиком кислорода, что препятствует возникновению кислородных вакансий и перестройке кристаллической ячейки Zr02 в искаженные тетрагональную и кубическую сфуктуры. Нами установлено, что введение в экстракты циркония экстрактов висмута для улучшения адгезионных свойств покрытия после пиролиза при 800...900 °С приводит одновременно и к стабилизации кубической модификации оксида циркония.

Как видно из рисунка, в отличие от дифрактограммы исходного волокна на дифрактограммах модифицированного волокна присутствуют линии, соответствующие межплоскостным расстояниям d = 2,91084; 2,52034; 1,80129; 1,52278 А0 кубической модификации Zr02. Кроме того, необходимо подчеркнуть, что на приведенных дифрактограммах отсутствует наиболее интенсивная линия моноклинной модификации с межплоскостным расстоянием d = 3,16200 А0. Предварительно из тех же экстрактов на кварцевой подложке были получены многослойные покрытия, которые методом рентгенофазового анализа были также идентифицированы как кубическая модификация двуокиси циркония. Необходимо отметить, что возможность формирования кубической и тетрагональной модификаций Zr02 при низких температурах в тонких плёнках установлена, в частности, в работе.

Так как полирование осуществлялось под углом, то и форма торца получилась эллипсоидной с размерами, превосходящими истинные значения диаметра исходного волокна.

Толщина оксидной пленки в данном случае не превышает одного микрометра. Дело в том, что при полировании в эпоксидной смоле волокно деформирует смолу, в результате чего вокруг волокна образуются микротрещины, в которые попадает часть диоксида циркония. Сейчас проводится методическая работа по получению шлифованных образцов в более твердой и жесткой матрице.